pxi模組化架構(gòu)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)問(wèn)世。美商國(guó)家儀器(ni)發(fā)布首款采用pxi模組化架構(gòu)開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，標(biāo)榜兼具更低測(cè)試成本、更高功能擴(kuò)充性及更快部署的優(yōu)勢(shì)，為傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ate)制造商帶來(lái)不可小覷的威脅。
　　美商國(guó)家儀器精密直流資深產(chǎn)品經(jīng)理joeytun表示，pxi架構(gòu)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)具備多通道特性，不僅較傳統(tǒng)ate測(cè)試速度更快，且功能擴(kuò)充彈性高，可望獲得更多類比和射頻元件廠商的青睞。
　　美商國(guó)家儀器精密直流資深產(chǎn)品經(jīng)理joeytun表示，隨著產(chǎn)品規(guī)格不斷提升，類比及射頻(rf)元件開(kāi)發(fā)商亦須持續(xù)汰換測(cè)試系統(tǒng)，以滿足新產(chǎn)品的測(cè)試需求;然而，傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ate)的替換成本高昂，使得晶片商須負(fù)擔(dān)的測(cè)試成本日益沉重。
　　為滿足類比與射頻元件業(yè)者對(duì)更低測(cè)試成本的需求，美商國(guó)家儀器正挾pxi模組化架構(gòu)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，積極擴(kuò)大在半導(dǎo)體后段制程設(shè)備的市場(chǎng)滲透率。
tun指出，開(kāi)放式pxi模組化架構(gòu)開(kāi)發(fā)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，可協(xié)助類比及射頻元件制造商縮減測(cè)試成本，同時(shí)彈性增加新功能。
　　此外，美商國(guó)家儀器也于pxi半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)整合teststand測(cè)試管理軟體和labview系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟體，為半導(dǎo)體廠商提供豐富的功能組合，如可客制化的操作介面、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試資料格式報(bào)表制作等，助力類比及射頻元件開(kāi)發(fā)商快速于海外產(chǎn)線建置完整的半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試方案。
　　據(jù)了解，目前idt、亞德諾(adi)等半導(dǎo)體業(yè)者已相繼于后段半導(dǎo)體制程采用美商國(guó)家儀器的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，藉此大幅減低整體生產(chǎn)測(cè)試成本。